描述：德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）具备高重复性和分辨率，可在纳米尺度上精确测量表面轮廓，适用于微电子、半导体、电池和高亮度LED等领域。该设备拥有Single-arch设计、智能化电子元件、快速数据采集和处理能力，操作简便，能大幅提升数据采集和分析效率。
德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术，更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。
台阶仪DektakXT能实现：
1、 使用温度条件：10-30℃；
2、无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃
3、Single-arch设计提供扫描稳定性
4、的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
5、新硬件配置使数据采集时间缩短
6、64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度高了10倍
7、频率，操作简易
8、直观的Vision64用户界面，操作简易
9、针尖自动校准系统
10、布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能
11、单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围
建立在40多年的探针轮廓技术的知识和经验薄膜测试仪，在基于微处理器的轮廓仪，和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪，内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪
当需要台阶高度、表面粗糙度、测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得表面测量
数据采集和分析速度
直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和
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